三木科技的BIB板高低溫試驗(yàn)箱專為半導(dǎo)體、電子元件及老化板（Burn-in Board）的高低溫老化測(cè)試而設(shè)計(jì)，精準(zhǔn)模擬嚴(yán)苛溫度環(huán)境，確保芯片、模塊在批量生產(chǎn)前的可靠性與穩(wěn)定性。該試驗(yàn)箱提供寬廣的溫變范圍，溫度均勻性優(yōu)異，支持長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)運(yùn)行，廣泛應(yīng)用于集成電路、通信模塊、車載電子等產(chǎn)品的老化篩選與性能評(píng)估，是提升產(chǎn)品良率和可靠性的關(guān)鍵測(cè)試設(shè)備。

• ?提供非標(biāo)定制（如端口擴(kuò)展、特殊載具），配合技術(shù)團(tuán)隊(duì)全程支持，滿足車規(guī)級(jí)等嚴(yán)苛測(cè)試需求。
• ?采用大功率壓縮機(jī)組及高效制冷系統(tǒng)，提供快速的線性溫變速率，并能有效抵消BIB板自身發(fā)熱，實(shí)現(xiàn)滿負(fù)荷通電狀態(tài)下的精準(zhǔn)恒溫。
• ?標(biāo)配自動(dòng)電動(dòng)門，一鍵啟閉，密封性更好，提升效率并保障溫場(chǎng)穩(wěn)定與人員安全。
• ?可依據(jù)客戶BIB板及老化架尺寸，定制加固型貨架（滑軌式），承重強(qiáng)，布局靈活。

大尺寸觸摸屏控制器，支持多段程序編程、USB數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與導(dǎo)出，并可選配遠(yuǎn)程監(jiān)控及報(bào)警功能，實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守管理。

BIB板（老化板）高低溫試驗(yàn)箱作為電子產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性的關(guān)鍵驗(yàn)證設(shè)備，其核心應(yīng)用是對(duì)裝載在專用老化板（BIB）上的半導(dǎo)體器件、電子模塊進(jìn)行通電狀態(tài)下的高低溫應(yīng)力篩選和性能評(píng)估。主要服務(wù)于以下核心領(lǐng)域：

• ?半導(dǎo)體與集成電路行業(yè)：芯片老化篩選（Burn-in）：對(duì)CPU、GPU、存儲(chǔ)器（DRAM, NAND Flash）、微控制器（MCU）等芯片進(jìn)行高溫、高電壓通電老化，提前剔除早期失效產(chǎn)品，是提升出廠良率的關(guān)鍵工序。
• ?車規(guī)級(jí)可靠性驗(yàn)證：嚴(yán)格遵循AEC-Q100等標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)發(fā)動(dòng)機(jī)控制單元（ECU）、電池管理系統(tǒng)（BMS）、車載傳感器、IGBT模塊等進(jìn)行高低溫循環(huán)、高溫反偏（HTRB）等測(cè)試，確保其在極端環(huán)境下的絕對(duì)可靠性。
• ?服務(wù)器與存儲(chǔ)設(shè)備驗(yàn)證：測(cè)試服務(wù)器主板、存儲(chǔ)驅(qū)動(dòng)器在長(zhǎng)期高負(fù)載及溫度變化下的穩(wěn)定性。
• ?航空航天與國(guó)防電子： 對(duì)用于衛(wèi)星、航空儀表、雷達(dá)系統(tǒng)的電子組件進(jìn)行遠(yuǎn)超民用等級(jí)的溫度應(yīng)力篩選（如-55℃至+125℃），滿足嚴(yán)苛的 MIL-STD 等標(biāo)準(zhǔn)要求。

BIB板（老化板）專用高低溫試驗(yàn)箱，是電子產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性的驗(yàn)證基石，其設(shè)計(jì)與性能嚴(yán)格遵循國(guó)際主流行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。無(wú)論您是進(jìn)行芯片老化篩選、車規(guī)級(jí)認(rèn)證，還是軍工產(chǎn)品測(cè)試，本設(shè)備均能提供精準(zhǔn)、穩(wěn)定、合規(guī)的測(cè)試環(huán)境，助力您的產(chǎn)品通過(guò)嚴(yán)苛的質(zhì)量考驗(yàn)。

• ?半導(dǎo)體/IC：JEDEC (JESD22) - 行業(yè)通用可靠性基礎(chǔ)；AEC-Q100 - 車規(guī)芯片強(qiáng)制認(rèn)證。
• ?汽車電子：AEC-Q100/Q104 - 車規(guī)芯片與模組；ISO 16750 - 整車廠環(huán)境試驗(yàn)通用要求。
• ?通信設(shè)備：GR-468-CORE - 光器件可靠性核心標(biāo)準(zhǔn)；
• ?軍工/航天：MIL-STD-883 / GJB 548 - 高可靠性與軍品嚴(yán)苛試驗(yàn)方法。

它還符合通用基礎(chǔ)：IEC 60068-2 / GB/T 2423 - 高低溫環(huán)境試驗(yàn)的國(guó)際與國(guó)標(biāo)基礎(chǔ)。